光致发光谱仪主要由激光光源、样品室、发射光谱仪、探测器、数据采集器及数据处理系统和软件等六部分组成。本系统可用于测量直接带隙且禁带宽度小于3.82eV(1241/325)的材料的光致发光谱。只要应用于组分测定、杂质识别、杂质浓度测定、变温Pl可以测试材料/器件的发光效率、半导体材料的少数载流子寿命和位错等缺陷的相关作用研究
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